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X-4 显微熔点仪(数显)测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
主要技术参数
熔点测量范围 | 室温至320℃ |
测量重复性 | ±1℃(在≤200℃时)±2℃(在200~300℃时) |
光学放大倍数 | 目镜10X;物境4X |